菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240儀器特點

1. 用途廣泛的鍍層厚度測量

• 通過組合高壓和濾片，可精準測量極薄（如50 nm Au）至較厚（如100 μm Sn）的鍍層，覆蓋多種厚度需求 。

2. 高精度微聚焦技術

• 配備微聚焦X射線管，最小測量點可達100 μm，適用於(yu) 微小結構（如連接器、觸點）的精細檢測 。

3. 高效計數率與(yu) 穩定性

• 比例計數器支持高達數千cps（每秒計數率），確保快速測量和良好的重複精度，即使短時間測量也能保證結果可靠性 。

4. 便捷的樣品放置設計

• X射線源位於(yu) 測量艙底部，射線方向從(cong) 下至上，結合大容量C型開槽艙體(ti) ，便於(yu) 放置大尺寸或扁平樣品（如印刷線路板） 。

5. 靈活的測量配置

• 支持手動或自動切換準直器與(yu) 濾片，適應不同鍍層材料和結構（如多層鍍層、同元素鍍種）