FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀(yi) 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi) 。該儀(yi) 器具備以下顯著優(you) 勢：

• 應用領域廣泛：適用於(yu) 無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時可檢測大規模生產(chan) 的零部件及印刷線路板上的鍍層。

• 性能穩定可靠：擁有良好的長期穩定性，大幅減少儀(yi) 器校準頻率；比例接收器實現高計數率，保障高精度測量。

• 測量方法先進：采用FISCHER基本參數法，無論是鍍層係統，還是固體(ti) 和液體(ti) 樣品，無需標準片即可進行測量和分析。

菲希爾代理FISCHERSCOPE X-RAY XDL230產(chan) 品應用

• 測量大規模生產(chan) 的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如裝飾鉻

• 測量電子工業(ye) 或半導體(ti) 工業(ye) 中的功能性鍍層

• 測量印刷線路板

• 分析電鍍溶液