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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116測針升降信息
點擊次數:113 更新時間:2025-05-29
深孔與複雜表麵的粗糙度測量,一直是工業檢測中的難題。泰勒霍普森 Surtronic S116 粗糙度儀憑借特設計,在這方麵展現出強大實力,堪稱複雜表麵測量的專家。


S116 標配 50mm 測針升降裝置與直角附件,這一巧妙配置使其擁有 “超長探測臂",可深入 70mm 深的孔或管道內部,無需借助額外的昂貴工裝,便能輕鬆完成檢測任務,大大提高檢測效率與便捷性。儀器的防滑 V 型腳架設計匠心,無論是平滑的平麵,還是圓柱、弧麵等曲麵,都能實現穩定安裝。更為出色的是,測針具備反向測量底部結構的功能,對於形狀複雜的工件,也能地進行測量,精準獲取表麵粗糙度數據。


在操作上,S116 同樣十分便捷。具備即開即用特性,待機狀態下 1 秒即可喚醒,快速開啟測量工作。4.3 英寸觸摸屏界麵直觀簡潔,單頁可同時清晰顯示 7 個參數,並支持快捷鍵快速設置,操作流暢高效。屏幕支持四向旋轉,即便處於高空、倒置等非常規測量角度,也能確保數據讀取清晰準確,為複雜環境下的測量工作提供有力支持。


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