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Olympus測厚儀的分類介紹
點擊次數:1046 更新時間:2018-05-25
Olympus測厚儀的分類介紹
用於測定材料本身厚度或材料表麵覆蓋層厚度的儀器。有些構件在製造和檢修時必須測量其厚度,以便了解材料的厚薄規格,各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時則要測定材料表麵的覆蓋層厚度,以保證產品質量和生產安全。根據測定原理的不同,常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。
超聲波測厚儀超聲波在各種介質中的聲速是不同的,但在同一介質中聲速是一常數。超聲波在介質中傳播遇到第二種介質時會被反射,測量超聲波脈衝從發射至接收的間隔時間,即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業中應用zui廣的就是這類測厚儀。常用於測定鍋爐鍋筒、受熱麵管子、管道等的厚度,也用於校核工件結構尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導體收音機相近,厚度值的顯示多是數字式的。對於鋼材,zui大測定厚度達2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之間。
磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時,測定值會因其表麵非導磁覆蓋層厚度的不同而發生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用於測定鐵磁金屬表麵上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置於被測金屬表麵時,由於高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流,此渦流產生的磁場又反作用於探頭線圈,使其阻抗發生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表麵的距離(即覆蓋層的厚度)有關,因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表麵覆蓋層的厚度。常用於測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表麵上其他絕緣覆蓋層的厚度。
同位素測厚儀利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理,可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、矽鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。 上一篇 兩種方法,校準修正Olympus相控陣儀 下一篇 關於GE汽車塗膠檢測培訓—篤摯