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菲希爾X射線測厚儀XDL230

菲希爾X射線測厚儀XDL230

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菲希爾X射線測厚儀(yi) XDL230,菲希爾X射線鍍層測厚儀(yi) ,FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

菲希爾X射線測厚儀XDL230的詳細資料:

菲希爾X射線測厚儀(yi) XDL230

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi) 。它適用於(yu) 無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產(chan) 的零部件及印刷線路板上的鍍層。

比例接收器能實現計數率

由於(yu) 采用了FISCHER基本參數法,因此無論是對鍍層係統還是對固體(ti) 和液體(ti) 樣品,儀(yi) 器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

通用規格
設計用途能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXPF),用於測定鍍層和溶液分析。
元素範圍從元素氯(17)到鈾(92)
配有可選的WinFTM®BASIC軟件時,可同時測定24種元素
設計理念台式儀器,測量門向上開啟
測量方向由上往下
X射線源
X射線管帶鈹窗口的鎢管
高壓三檔:30KV,40KV,50KV
孔徑(準直器)φ0.3mm 可選:φ0.1mm;φ0.2mm;長方形0.3mm x 0.05mm
測量點尺寸取決於測量距離及使用的準直器大小
實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致
小的測量點大小約φ0.2mm



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