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傳真:86-021-50473901
E-mail: dooz17@qq.com
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菲希爾X射線測厚儀XDL230的詳細資料:
菲希爾X射線測厚儀(yi) XDL230
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi) 。它適用於(yu) 無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產(chan) 的零部件及印刷線路板上的鍍層。
比例接收器能實現計數率
由於(yu) 采用了FISCHER基本參數法,因此無論是對鍍層係統還是對固體(ti) 和液體(ti) 樣品,儀(yi) 器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
通用規格 | |
設計用途 | 能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXPF),用於測定鍍層和溶液分析。 |
元素範圍 | 從元素氯(17)到鈾(92) |
配有可選的WinFTM®BASIC軟件時,可同時測定24種元素 | |
設計理念 | 台式儀器,測量門向上開啟 |
測量方向 | 由上往下 |
X射線源 | |
X射線管 | 帶鈹窗口的鎢管 |
高壓 | 三檔:30KV,40KV,50KV |
孔徑(準直器) | φ0.3mm 可選:φ0.1mm;φ0.2mm;長方形0.3mm x 0.05mm |
測量點尺寸 | 取決於測量距離及使用的準直器大小 |
實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 | |
小的測量點大小約φ0.2mm |