菲希爾DualScope FMP20塗鍍層測厚儀的詳細資料：

菲希爾DualScope FMP20塗鍍層測厚儀(yi)

Dualscope®FMP20：
由於(yu) 自動基板材料識別和兩(liang) 種測量方法的結合，該通用儀(yi) 器能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導電材料上的許多塗層。根據您的測量應用，您可以根據磁感應法（Deltascope®FMP10），渦流法（Isoscope®FMP10）或根據兩(liang) 種方法組合在一台儀(yi) 器（Dualscope®FMP20）中進行的塗層厚度測量。
DualScope FMP20塗層測厚儀(yi) 二合一機型符合：ISO 2178,2360,2808; EN ISO 19840; ASTM B499; D1186，D1400，D7091，E376，G12;SSPC-PA2;BS3900-C5; BS EN ISO 1461; IMO PSPC

菲希爾DualScope FMP20塗鍍層測厚儀(yi)
特征：
適用於(yu) 所有磁感應和渦流探頭
自動探頭識別
自動基材識別（FMP 20）
用戶友好的儀(yi) 器操作
用於(yu) 數據傳(chuan) 輸到PC的USB端口
大，顯示與(yu) 240x160像素豐(feng) 富的對比
準備在上電後進行測量
探頭放置時自動測量采集
內(nei) 存多達1000個(ge) 讀數
測量采集時的聲音信號
共同特征值的統計顯示，如平均值，標準差，zui小值，
zui大，範圍
通過ZERO鍵通過歸一化，輕鬆適應樣品的形狀
對於(yu) 強大的形狀差異，使用一個(ge) 或兩(liang) 個(ge) 校準箔進行額外的校正校準
在材料和幾何特性的情況下，特性設置的主校準
將主校準存儲(chu) 在連接的探頭中的能力
測量單位可以在μm和mil之間切換
可調節儀(yi) 器關(guan) 閉或連續操作
顯示各種狀態（例如，當電池電壓下降時的警告信息）
可鎖定鍵盤/限製操作模式
機械滑塊覆蓋測量操作不需要的鍵
各種語言設置
磁感應測量原理:
采用磁感應原理時，利用從(cong) 測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體(ti) 的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與(yu) 之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀(yi) ，原則上可以有導磁基體(ti) 上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與(yu) 基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀(yi) 器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chan) 品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀(yi) 器將該信號放大後來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償(chang) 等地新技術，利用磁阻來調製測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個(ge) 數量級）。現代的磁感應測厚儀(yi) ，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。

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