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micro gloss光澤度計BYK 4560/4561/4563

micro gloss光澤度計BYK 4560/4561/4563

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micro gloss光澤度計BYK 4560/4561/4563
三角度光澤儀(yi) 集20°, 60°, 85°三種角度於(yu) 一體(ti) –如同單角度儀(yi) 器一樣便攜。三個(ge) 角度在一台儀(yi) 器上使您能按標準迅速覺察到質量的變化。

micro gloss光澤度計BYK 4560/4561/4563的詳細資料:

 micro gloss光澤度計BYK 4560/4561/4563

訂購信息  
型號 名稱 角度 應用 測量麵積
4560 新微型光澤儀20° 20° 高光澤 10x10mm
4561 新微型光澤儀60° 60° 中光澤 9x15mm
4562 新微型光澤儀85° 85° 低光澤 5x38mm
4563 新微型三角度光澤儀 20°60°85° 各種光澤 參見各角度
4564 新微型三角度光澤儀μ 20°60°85° 各種光澤 參見各角度
4565 新微型光澤儀60°S 60° 中光澤 9x15mm
4566 新微型三角度光澤儀S 20°60°85° 各種光澤 參見各種角度
4567 新微型光澤儀45° 45° 陶瓷,塑料,薄膜 9x13mm
4568 新微型光澤儀75° 75° 紙張,聚乙烯 7x24mm
4569 新微型光澤儀60°XS 60° 中光澤 2x4mm
4570 新微型光澤儀60°XS-S 60° 中光澤 2x4mm
 
基本配置:主機,校準底座,可追溯的證書,USB線纜,電池,操作手冊
攜帶箱
軟件下載:smart-lab Gloss或smart-process Gloss帶2個秘鑰
注意:軟件下載後,兩個軟件包可免費試用30天。此後,用戶需要決定其中一個軟件並注冊。
延長質保服務:請參見技術服務章節
係統需求:
操作係統:32位:windows7SP1或8.1 Microsoft.*** Framework 4
硬件:推薦Core 2 Duo,2.2GHz,i7或相當的配置
內存:4GB RAM,推薦8GB
硬盤可用空間:***少300MB
顯示器分辨率:1280x1024像素或更高
端口:可用的USB端口
 測量範圍1 0-100GU 100-2000GU
 重複性2 ±0.2GU ±0.2%
 重現性2 ±0.5GU ±0.5%
 光譜敏感度 CIE standard observer for illuminant CIE-C
 測量時間 0.5秒/每一角度
 厚度  
 基體 Fe:磁性,NFe:非磁性
 測量範圍 0-500μm
 精度 ±(1.5μm+2%測量值)
 內存 999個讀數包括日期和時間
 接口 USB
 電源 一節1.5v堿性5號電池可測4,000次或使用USB端口
 尺寸 155x73x48mm
 重量 0.4kg
 操作溫度 15-40℃
 相對濕度 高達85%,不結露
 45°和70°光澤儀見前頁
S型光澤儀見前頁

 

德國BYK AG-4560微型光澤度儀(yi) -技術性能:
工業(ye) 領域中不可超越
無論您的生產(chan) 環境有多糟糕或者允差控製的有多嚴(yan) 格,微型光澤儀(yi) 的準確性和可靠性被成千上萬(wan) 的用戶所證明,它的品質較佳。長期穩定的LED光源不僅(jin) 能提供長期重複性高的結果,而且不再需要更換燈泡,我們(men) 甚至對燈泡的使用壽命給出10年質保期。
得益於(yu) 良好的溫度控製技術,微型光澤儀(yi) 保證測量的數據高度穩定–無論您身處實驗室還是移步至生產(chan) 線上的“熱點”。我們(men) 具有校準程序可確保生產(chan) 的每台光澤儀(yi) 具有的儀(yi) 器間*性。無論您的客戶在多遠的地方,隻要他是我們(men) 光澤儀(yi) 眾(zhong) 多用戶中的一員,他就能夠得出跟您一樣的測量數據。

微型三角度光澤儀(yi)
在正確的角度下 –
觀察產(chan) 品的變化
高-中-低光澤:您的應用屬於(yu) 哪一種?
三角度光澤儀(yi) 集20°, 60°, 85°三種角度於(yu) 一體(ti) –如同單角度儀(yi) 器一樣便攜。三個(ge) 角度在一台儀(yi) 器上使您能按標準迅速覺察到質量的變化。
所有被選擇的角度可在同一個(ge) 點上測量,並立即顯示測量結果–包括統計、差值、合格/不合格結果。
以下例子在20°角下兩(liang) 個(ge) 樣品的讀數更能顯示出兩(liang) 個(ge) 樣品間光澤的差異:
為(wei) 了清楚地得到從(cong) 平光到高光的整個(ge) 範圍內(nei) 的光澤度差值,標準規定了三個(ge) 角度。每個(ge) 角度都在對應的光澤範圍內(nei) 進行優(you) 化測量。

 


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