CMS2 STEP型電位差測厚儀的詳細資料：

CMS2 STEP型電位差測厚儀(yi)

CMS2 STEP型電位差測厚儀(yi)

塗層厚度測量單位-庫侖(lun) 法
塗層厚度-庫侖(lun) 法是一種用於(yu) 通過使用庫侖(lun) 法測量塗層厚度的裝置。 它是由我們(men) 的專(zhuan) 業(ye) 專(zhuan) 家通過使用優(you) 質材料和*技術而設計的。 這種塗層厚度-庫侖(lun) 法有不同的規格和尺寸，可以滿足客戶的各種需求。 該塗層厚度-庫侖(lun) 法用於(yu) 測量各種單塗層和多層塗層的厚度。 此外，其外殼由優(you) 質金屬製成。

台式塗層厚度測量儀(yi) ：Couloscope CMS2
台式塗層厚度測量儀(yi) – Couloscope CMS2用於(yu) 測量金屬和非金屬基材上的金屬塗層。 它可以測量單層和多層塗層。 它帶有圖形顯示，可清晰顯示測量結果。 對於(yu) 各種類型的金屬塗層，它具有各種預定義(yi) 的測量應用程序。 我們(men) 的台式塗層厚度測量裝置–庫侖(lun) CMS2具有可選的測量裝置，並具有多種顯示語言選項，例如亞(ya) 洲，南美和歐洲。

CMS2可測量任何基材材料上幾乎任何金屬塗層（包括多層）的厚度； 它根據通過陽極溶解的庫侖(lun) 法（DIN EN ISO 2177）工作。 簡單的操作和菜單支持的操作員指南使CMS2成為(wei) 電鍍行業(ye) 生產(chan) 監控和成品零件進貨檢驗的理想解決(jue) 方案。 該設備配備了近100種針對不同塗層係統的預定義(yi) 測量應用（例如，鋅在鐵上，鎳在黃銅上）以及各種去鍍速度（例如1,2、5和10μm/ min）。 這些也可以組合用於(yu) 測量多層係統。

破壞性塗層測試儀(yi) 器：Couloscope CMS2 STEP（可測電位差）
Couloscope CMS2步驟基本上是一種測量儀(yi) 器，在測量塗層厚度的不同行業(ye) 中都被廣泛使用。 它經過準確設計，還可以測量電化學勢。 庫侖(lun) CMS2的這一步驟因其準確的測量和尺寸精度而受到客戶的高度評價(jia) 。 它配備有LCD數字顯示屏，可有效顯示測量讀數。

除了對應於(yu) COULOSCOPE CMS2的塗層厚度測量外，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供根據ASTM B764-94和DIN 50022進行STEP測試的功能。COULOSCOPECMS2 STEP非常適合於(yu) 測量單個(ge) 塗層的厚度和潛在的 以簡單的符合標準的方式處理多個(ge) 鎳塗層的差異。

儀(yi) 器功能：

• 單塗層和多層塗層係統的測量。

• 圖形顯示可清晰顯示測量值，設置的鍍膜係統以及鍍層速度和測試區域大小等參數。

• 在LCD屏幕上以圖形方式顯示電池電壓。

• 對於(yu) 大多數金屬塗層，許多預定義(yi) 的測量應用程序。

• 可選的測量單位：μm或mils。

• 歐洲，南美和亞(ya) 洲的顯示語言。

公司介紹：

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