泰勒霍普森duo|surtronic DUO

表麵粗糙度基礎：每個(ge) 組件表麵都會(hui) 有一些紋理形狀因結構和製造方式而有所差異。這些表麵可以劃分為(wei) 三個(ge) 主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為(wei) 了控製製造過程或預測組件在使用過程中的行為(wei) ，有必要使用表麵紋理參數對表麵特征進行量化。

表麵紋理參數可分為(wei) 三個(ge) 基本類型:振幅參數-測量表麵偏差的垂直特征間距參數-測量表麵偏差的水平特征混合參數-間距參數和振幅參數的組合樣本長度-輪廓會(hui) 劃分為(wei) 樣本長度|，它的長度足以容納進行可靠的統計所需的數據量。對於(yu) 粗糙度和波紋度分析，樣本長度等於(yu) 選擇的截止長度。截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數學方法移除或減少不必要的數據以查看重點區域的波長的濾波器。樣本長度也稱為(wei) 截止長度。測定長度-用於(yu) 評估要測定輪廓的X軸方向的長度。測定長度可能包含-一個(ge) 或多個(ge) 樣本長度。對於(yu) 原始輪廓，測定長度等於(yu) 樣本長度。標準一適用時，泰勒*霍普森設備會(hui) 遵從(cong) ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標準所規定的程序。測量原理：通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅動裝置，確保行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波穀時，高感應度的壓電傳(chuan) 感器能檢測到它的垂直移動，然後將機械移動轉化為(wei) 電子信號。電子信號將進行數字化處理並發送到微處理器，然後使用標準化算法即時計算表麵粗糙度參數。