X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi) ，采用手動或自動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產(chan) 的零部件上的鍍層。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230  

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240

FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi) 。它非常適用於(yu) 無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規模生產(chan) 的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL係列儀(yi) 器特別適用於(yu) 客戶進行質量控製、進料檢驗和生產(chan) 流程監控。

典型的應用領域有:

測量大規模生產(chan) 的電鍍部件

測量超薄鍍層，例如:裝飾鉻

測量電子工業(ye) 或半導體(ti) 工業(ye) 中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

分析電鍍溶液

XDL係列儀(yi) 器有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀(yi) 器。

比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

由於(yu) 采用了FISCHER基本參數法，因此無論是對鍍層係統還是對固體(ti) 和液體(ti) 樣品，儀(yi) 器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。