菲希爾XDL240熒光測厚儀(yi) 規格用途

XDL 係列儀(yi) 器有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀(yi) 器。

是一款用戶界麵友好的台式測量儀(yi) 器。根據工作台的運行模式以及固定/可調節的 Z 軸係統，儀(yi) 器被設定為(wei) 不的同型號，以滿足實際應用的不同需求。

XDL240： 馬達驅動的 X-Y 工作台，當測量門打開時，工作台會(hui) 自動移到放置樣品的位置；馬達驅動的Z軸係統，可編程運行。

配有馬達驅動 X-Y 工作台的型號還配備了激光點，可以輔助定位並快速對準測量位置。

設計用途：能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi) (EDXRF)， 用於(yu) 測定超薄鍍層和溶液分析。 

元素範圍：從(cong) 元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時，最多可同時測定24種元素 

設計理念：台式儀(yi) 器，測量門向上開啟 

測量方向：由上往下