測量原理

DUO 粗糙度儀(yi) 運用接觸式測量原理，配備耐磨的金剛石測針部件與(yu) 精密的機動驅動裝置。儀(yi) 器運行時，測針在電機驅動下，以穩定速度於(yu) 被測物體(ti) 表麵移動，以此確保行進正確的水平距離。當測針劃過表麵波峰與(yu) 波穀時，高感應度的壓電傳(chuan) 感器能夠敏銳捕捉測針的垂直移動，並將機械移動轉化為(wei) 電子信號。這些電子信號經數字化處理後，被傳(chuan) 送至微處理器，運用標準化算法即時計算出表麵粗糙度參數。該測量方式不僅(jin) 保障了測量的準確性，其堅固耐磨的金剛石測針與(yu) 壓電傳(chuan) 感器組合，還確保了測量結果具備較高可靠性，能適應多種複雜測量場景。

DUO 粗糙度儀(yi) 功能較為(wei) 全麵，隻需輕鬆按下一鍵，就能快速測量多個(ge) 關(guan) 鍵的表麵粗糙度參數，如 Ra（輪廓算術平均偏差）、Rz（微觀不平度十點高度）、Rp（輪廓最大峰高）、Rv（輪廓最大穀深）以及 Rt（輪廓最大高度）等。這些參數會(hui) 清晰地顯示在儀(yi) 器配備的 2.4 英寸直觀 LCD 彩色屏幕上，屏幕顯示亮度較高，即便在不同光線環境下，使用者也能清楚讀取測量數據，為(wei) 現場測量工作帶來極大便利。