工作原理

當測厚儀(yi) 的探測頭放置在被測覆層表麵時，探測頭中的磁場產(chan) 生磁感應，磁感應穿透覆層並進入基材。由於(yu) 被覆層的磁導率與(yu) 基材的磁導率不同，會(hui) 產(chan) 生不同的磁感應。

測厚儀(yi) 通過探測頭檢測到的磁感應信號，經過信號處理和分析後，計算出覆層的厚度。

特點

測量精度高：采用可靠的傳(chuan) 感器和信號處理技術，能滿足對覆層厚度精度要求較高的應用場景，如 FMP10 的 FGA1.3 探頭在 0-50μm 範圍內(nei) 測量精度可達 0.25μm。

功能多樣：可測量各種類型的覆層，包括金屬塗層、漆膜、鍍層等。還具備多種測量模式，如連續測量模式、矩陣測量模式、區域測量模式、自動測量模式等。

操作簡便：儀(yi) 器操作界麵友好，開機後即可測量 / 插入探頭即可測量，通過簡單的零位修正就能適應底材形狀，校準也較為(wei) 簡便，使用一到兩(liang) 片箔片即可。

數據管理便捷：具有數據記錄和分析功能，可以記錄測量數據並進行數據分析。配備 USB 接口，可以連接計算機，部分型號如 FMP30-40 還可以連接打印機，搭配專(zhuan) 用軟件可生成圖文報告，滿足質量追溯與(yu) 合規性要求。

非破壞性測量：采用無接觸式測量方式，對被測材料不會(hui) 產(chan) 生任何破壞，保證了被測材料的完整性和安全性。