產(chan) 品特點

優(you) 化設計：為(wei) 無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(you) 化設計，配備固定的準直器和基本濾片，適用於(yu) 貴金屬分析。

測量精度高：配備高分辨率矽漂移探測器（SDD），適用於(yu) 更複雜的多元素分析，能實現高精度測量和良好的檢測靈敏度。重複性對於(yu) 金≤0.5‰，測量時間 60 秒。

測量方向合理：由下至上的測量方向，可簡便地實現樣品定位。

穩定性好：具有出色的精度和長期穩定性，降低了重新校準的必要性，節省時間和精力。

分析方法先進：Fischer 的基本參數方法允許分析固體(ti) 和液體(ti) 樣品以及塗層係統，無需校準。

技術參數

元素範圍：硫 S（16）至鈾 U（92），同時多達 24 種元素。

設計：台式單元，帶有向上打開的罩。

X 射線管：帶鈹窗的微焦點鎢管。

高電壓：3 檔，分別為(wei) 30kV，40kV，50kV；最大陽極電流 1mA。

光圈（準直儀(yi) ）：直徑 1mm（39mils），可選直徑 2mm（79mils）或直徑 0.6mm（23.6mils）。

應用領域

珠寶行業(ye) ：可分析珠寶中各種貴金屬及其合金的成分，確定其純度和品質，也可測量珠寶表麵塗層厚度，評估塗層質量。

硬幣製造：用於(yu) 分析硬幣的金屬成分，確保其符合標準，同時可檢測硬幣表麵的鍍層厚度，保證鍍層均勻性和質量。

貴金屬加工：在貴金屬冶煉、加工過程中，對原材料、半成品和成品進行成分分析和塗層厚度測量，實現質量控製。

牙科領域：分析牙科合金的成分，確保其生物相容性和性能符合要求，也可用於(yu) 測量牙科修複體(ti) 表麵塗層厚度